Cameca-EPMA (Model:SXFive)

193
1245
Vui lòng liên hệ với chúng tôi– chúng tôi sẽ liên hệ lại với khách hàng bằng điện thoại hoặc email.
Lưu ý: Tham khảo ý kiến của nhân viên INO sẽ giúp bạn tiết kiệm được thời gian và chi phí khi cần mua sắm. ​​Với sự tư vấn của chúng tôi, bạn sẽ không gặp khó khăn khi tìm hiểu về đặc tính của sản phẩm cần mua.

Electron Probe Micro Analyzer for Materials & Geosciences

Combining advanced electron optics, state-of-the-art spectrometer design and dedicated software, the CAMECA SXFive performs high accuracy qualitative and quantitative chemical microanalysis in geochemistry, mineralogy, geochronology, physical and nuclear metallurgy, material sciences (including cements, glass, ceramics …), biochemistry, microelectronics…

Optimized electron column

The SXFive comes equipped with a versatile electron gun compatible with W and LaB6. The beam current is continuously regulated, achieving a stability of 0.3% per 12 hours, thus enabling reliable long term quantitative analyses. The beam intensity is accurately measured thanks to an annular Faraday cup and electrostatic deflection. The high voltage system operates at up to 30 kV for elements with high atomic number. High intensity beam currents (several µA) may be used for trace element measurements and high speed X-ray mapping.
The SXFive can be upgraded with a Field Emission source (see SXFiveFE model).

The finest Wavelength Dispersive Spectrometers (WDS)

Quantitative x-ray mapping in carburized steelWavelength Dispersive Spectrometry is acknowledged as the method of choice for high precision quantitative analysis. Up to 5 WDS spectrometers, plus one energy dispersive spectrometer EDS, may be fitted to the SXFive microprobe. Optical encoders ensure the accurate positioning of the spectrometers which can be mounted vertically for flat and polished specimens or may be inclined for rough specimens. High sensitivity crystals allow a nearly 3-fold increase in count rate while maintaining peak to background ratio and spectral resolution, and keeping the full spectrometer analysis range.
Right side example shows optimized Ca, Fe and Mg mapping with the CAMECA high intensity crystals.

Fully integrated optical microscope

Using a CCD digital camera, opaque specimens are viewed in reflected light while thin sections are imaged in transmitted light. The Field Of View of the optical image is continuously variable from 250 to 1700 µm thanks to a motorized lens. An autofocus system guarantees that the specimen surface returns to the correctly focused position at any time.

Dedicated automation and analysis software package

The SXFive is equipped with modern X-ray imaging acquisition technologies, PC automation under the latest Windows version, and a user-friendly interface. All analytical processes are fully automated for maximum efficiency. You may request our PeakSight brochure for full details on this dedicated software package.

Resource & Download

Lưu ý: Nếu một thiết bị nào đó không được liệt kê ở đây, điều đó không có nghĩa rằng chúng tôi không hỗ trợ được bạn về thiết bị đó. Hãy liên hệ với chúng tôi để biết danh sách đầy đủ về thiết bị mà chúng tôi có thể hỗ trợ và cung cấp.
INO: Bán, Báo giá, tư vấn mua sắm và cung cấp, tư vấn sản phẩm thay thế; tương đương, hướng dẫn sử dụng, giá…VNĐ, …USD info@ino.com.vn | 02873000184 | Cameca-EPMA (Model:SXFive).

Comments are closed.